XAN® 系列儀器特别适合測量和(hé)分析超薄鍍層，即使鍍層成分複雜或含量微小也都能準确測量。該系列産品簡單易用且性價比高(gāo)，因此在同類産品中脫穎而出。

特性：

　　操作簡單且性價比高(gāo)。

　　自(zì)下而上進行測量，從而快速、簡便地(dì)定位樣品

　　廣泛适用：為(wèi)各個行業的(de)典型需求量身定制了多種型号

　　以非破壞性方式進行鍍層厚度測量與元素分析

　　帶有高(gāo)性能 X 射線管和(hé)高(gāo)靈敏度的(de)矽漂移探測器 (SDD)的(de)機型，可(kě)對極薄鍍層及微量成分進行精确測量

　　應用：

　　鍍層厚度測量

　　厚度僅為(wèi)幾納米的(de)貴金屬鍍層

　　時尚首飾：對代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統進行分析

　　抗磨損鍍層，如(rú)：對化學(xué)鎳鍍層的(de)厚度及磷含量進行測量

　　測試納米級基礎金屬化層(凸點下金屬化層，UBM)

　　材料分析

　　測定黃金首飾等貴金屬、手表和(hé)硬币的(de)成分與純度

　　專業實驗室、檢測機構以及科研院校中常規材料分析

　　依據 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準則，檢測電子(zǐ)元件、包裝以及消費品中不合要求的(de)物質(例如(rú)重金屬)

　　功能性鍍層的(de)成分，如(rú)測定化學(xué)鎳中的(de)磷含量