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針對直讀光譜儀入射光路的(de)故障解讀

  入射狹縫的(de)故障前面已經提到,下面針對光譜儀入射光路的(de)故障進行叙述。

  (1)光路無靜态氩氣保護。光路是密封的(de)非真空狀态,必須用靜态氩保護才能保證紫外線200nm以下元素的(de)準确分析。有時光路的(de)靜态氩氣氣路被阻或掉下,造成光路無靜态氩。另外調節靜态氩的(de)氣閥出現故障也會出現這種現象。光譜儀開機使用時,必須保證氩氣打開20min以上才能做(zuò)狹縫掃描和(hé)工作曲線校準。因為(wèi)時間太短(duǎn)會造成光路靜态氩還沒有達到飽和(hé)而造成200nm以下的(de)元素光強值逐步增加的(de)現象。原來校準的(de)工作曲線會造成碳、磷、硫等元素含量偏高(gāo)。

  (2)左、右樣品架的(de)人射窗口被污染,使分析結果嚴重偏低(dī)。石英窗必須經常進行清洗,常用5%的(de)鹽酸或酒精進行清洗。清洗之元素的(de)光強值會明顯增加。安裝時應注意石英窗的(de)密封,不使氩氣洩漏。

  (3)系統工作正常,高(gāo)壓供電正常,分析結果為(wèi)“0”。這種故障出現在Hg燈反射針或右架反射鏡的(de)電感線圈位置不對時。左架曝光時,Hg反射鏡沒有退出光路,左架激發光不能進入人射光路被Hg反射鏡擋住。在右架激發時,曝光階段右架反射鏡沒有進入光路,使激發光不能反射到人射光路。

  解決辦法:

  1)重新安置反射鏡動作的(de)電感線圈驅動位置。

  2)檢查反射鏡動作的(de)控制信号。

  3)檢查右架反射鏡是否掉下來了。

  (4)同一(yī)樣品左、右架激發的(de)光強值不同。造成這種情況需要調整右架反射鏡的(de)反射偏轉角。