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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號	產(chǎn)品簡介
	3501電容值測試儀 3501	3501電容值測試儀產(chǎn)地: 日本廠商: 日本日置 HIOKI 16當量程涵蓋了從300 pF到10,000 μF的范圍·單按鍵操作·與一般測量功能不同，它還能用DC測量電容—無偏差測量極性電容·兩種類型連接治具可以處理所有尺寸的電容
	3503電容測試儀 3503	3503電容測試儀產(chǎn)地: 日本廠商: 日本日置 HIOKI MLCC疊片陶瓷電容的高速測量，低價、高效 ·定電壓測量：1V(～17μF)、15mV(～170μF)、1kHz時·4ms（代表值）的高速測量·內(nèi)置比較器·數(shù)臺同時使用時，相位同步可能·附帶同時觸發(fā)輸出功能
	3535LCR測試儀120MHz 3535	3535LCR測試儀120MHz 高速LCR儀，采樣率可高至120MHz 100kHz～120MHz的寬頻帶高速LCR測試（6ms/采樣）拆卸式前置放大器可選擇為比較標準元件提供補償?shù)摹柏撦d補償功能測量參數(shù) \|Z\|，\|Y\|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)
	3511-50LCR測試儀 3511-50	3511-50LCR測試儀高速測量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz) 高精度： ±0.08% 內(nèi)置比較器 │Z│,θ，C，L，D，Q，R 測量源：恒壓50mV，500mV，1Vrms(AC)檢測：電壓，AC 120Hz或1kHz
	3522-50LCR測試儀 3522-50LCR	3522-50LCR測試儀測量參數(shù)\|Z\|，\|Y\|，θ，Rp（DCR），Rs（ESR，DCR）, G，X，B，Cp，Cs，Lp，Ls，D（tanδ）和Q
	3532-50 5MHZLCR測試儀 3532-50	3532-50 5MHZLCR測試儀：測試頻率可在42Hz～5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位**度自由調(diào)整。可很容易地測試被測物在高頻量程內(nèi)的特性。操作非常簡便，改變設(shè)置時通過觸模屏幕，所需的設(shè)定選項會順序排列顯示出來.

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