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更詳細(xì)的產(chǎn)品分類

頻率特性掃頻儀頻譜分析儀晶體管圖示儀

產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號	產(chǎn)品簡介
	XJ4829型數(shù)字存儲半導(dǎo)體管特性圖示儀\|上海新建 XJ4829	XJ4829型數(shù)字存儲半導(dǎo)體管特性圖示儀\|上海新建采用彩色LCD顯示，具有數(shù)字存儲功能，能滿足對半導(dǎo)體管特性、三端穩(wěn)壓集成電路進(jìn)行圖示、參數(shù)測量，能對模擬器件進(jìn)行分析、參數(shù)挑選、配對等半導(dǎo)體管測試單元能滿足對二極管、三極管、場效應(yīng)管、VMOS等器件的直流參數(shù)的特性測試。具有β、gm值的自動測量，二極管測試電壓*高達(dá)3000V，具有過載保護(hù)功能，能自動保護(hù)被測器件和測試儀器，帶接口(USB)
	SP31000型數(shù)字合成掃頻儀\|南京盛普 SP31000	SP31000型數(shù)字合成掃頻儀\|南京盛普頻率范圍：20HZ-1000MHZ
	SP3060 數(shù)字合成掃頻儀\|南京盛普 SP3060	SP3060 數(shù)字合成掃頻儀\|南京盛普頻率范圍：20HZ-60MHZ
	SP3060數(shù)字合成掃頻儀\|南京盛普 SP3060	SP3060數(shù)字合成掃頻儀\|南京盛普頻率范圍：20HZ-60M
	XJ4834/4833型大功率數(shù)字存儲半導(dǎo)體管圖示儀\|上海新建 XJ4834/4833	XJ4834/4833型大功率數(shù)字存儲半導(dǎo)體管圖示儀\|上海新建具有*大400A/200A的集電極電流和1000V的集電極掃描電壓輸出。采用大電流脈沖、采樣、存儲等技術(shù)，滿足對大功率半導(dǎo)體管特性進(jìn)行圖示、參數(shù)測量。能對大功率半導(dǎo)體管特性進(jìn)行分析、參數(shù)挑選、配對等，并具有計(jì)算機(jī)接口、可打印輸出, 并可將測試結(jié)果存儲、調(diào)用、打印。具有存儲功能，存儲的特性曲線可存儲、調(diào)用、打印;
	XJ4832型數(shù)字存儲100A大功率半導(dǎo)體管特性圖示儀\|上海新建 XJ4832	XJ4832型數(shù)字存儲100A大功率半導(dǎo)體管特性圖示儀\|上海新建
	DY294晶體管直流參數(shù)測試儀 DY294	DY294晶體管直流參數(shù)測試儀測試各種晶體二極管、三極管、可控硅、場效應(yīng)管的正向、反向電壓、正向飽和壓降、放大倍數(shù)、反向漏電流等多種直流參數(shù)；還可以測試電解電容，滌綸電容，獨(dú)石電容，高壓瓷片的耐壓值；可以測試壓敏電阻的保護(hù)電壓值；可以測試氖泡、霓虹燈管的起輝電壓值；還可以測試78、79系列三端穩(wěn)壓電路的穩(wěn)壓值。
	XJ27106型高壓測試裝置 XJ27106	XJ27106型高壓測試裝置 XJ27106型（XJ87701型)3KV測試裝置與XJ4822/XJ4822B主機(jī)配合使用，能測試3KV以內(nèi)的半導(dǎo)體器件的反向電壓。
	300M掃頻儀│BT-3GⅢ掃頻儀 BT-3GⅢ	300M掃頻儀│BT-3GⅢ掃頻儀掃頻范圍： 1～300MHZBT-3GⅢ 掃頻儀掃頻寬度：a、全掃：1～300MHZb、窄掃：寬≥100MHZ，窄≤1MHZ可調(diào)c、點(diǎn)額：1～300MHZ額連續(xù)，輸出正弦波掃頻非線性：不大于1：1.2輸出電壓：0.5V(3.33MW±10%
	XJ27105型SOT-23封裝器件測試裝置 XJ27105	XJ27105型SOT-23封裝器件測試裝置--半導(dǎo)體管特性圖示儀功能擴(kuò)展裝置與XJ4810/XJ4810A/XJ4832/XJ4830/XJ4822/XJ4822B/XJ4828/XJ4829主機(jī)配合使用，能對國內(nèi)、外不同類型SOT-23封裝的貼片半導(dǎo)體器件的靜態(tài)參數(shù)進(jìn)行測試，顯示其特性曲線。
	XJ27104型VMOS管特性測試裝置 XJ27104	XJ27104型VMOS管特性測試裝置本裝置與XJ4810/XJ4810A主機(jī)配合使用，能對國內(nèi)、外不同類型VMOS管的靜態(tài)參數(shù)進(jìn)行測試，顯示其特性曲線，并可測出其閾門電壓。
	XJ27103型三端集成穩(wěn)壓器特性測試裝置 XJ27103	XJ27103型三端集成穩(wěn)壓器特性測試裝置本裝置與XJ4810/XJ4810A主機(jī)配合使用，能測試“78、79系列”三端集成穩(wěn)壓的靜態(tài)輸入特性曲線及負(fù)載特性曲線。
	XJ27102/XJ27102A型高壓測試裝置 XJ27102/XJ27102A	XJ27102/XJ27102A型高壓測試裝置主機(jī)配合使用，能測試3KV或5KV以內(nèi)的半導(dǎo)體器件的反向電壓。
	XJ27101型數(shù)字集成電路電壓傳輸特性測試裝置 XJ27101	XJ27101型數(shù)字集成電路電壓傳輸特性測試裝置本裝置與XJ4810/XJ4810A主機(jī)配合使用，能測試CMOS、TTL數(shù)字集成電路電壓傳輸特性，不僅可判別被測器件功能是否正常，還可測出其開門電壓、關(guān)門電壓的重要參數(shù)。
	半導(dǎo)體管特性圖示儀功能擴(kuò)展裝置 XJ27100	半導(dǎo)體管特性圖示儀功能擴(kuò)展裝置本裝置與XJ4810/XJ4810A主機(jī)配合使用，能對國內(nèi)、外不同類型的場效應(yīng)管進(jìn)行單管或?qū)軠y試。
	掃頻儀BT-3C BT-3C	掃頻儀BT-3C頻率特性測試儀是利用示波管直接顯示被測設(shè)備的頻率響應(yīng)曲線的儀器，由于采用晶體管，集成電路，因此本儀器與BT3型相比較則具有功耗。用它可測定無線電設(shè)備的頻率特性。配用本廠產(chǎn)品TB4-75型駐波電橋，可以測量器件的駐波特性，配用本廠產(chǎn)品3890型掃頻測試對數(shù)放大器可以測量器件的阻帶特性，特別適用于電視機(jī)用聲表面波濾波器的生產(chǎn)與測試。
	XJ23702型30kV高壓探極 XJ23702型	XJ23702型30kV高壓探極/上海新建上升時間 ≤17.5ns *大允許輸入電壓 30kV 輸入阻抗 100MΩ//12pF
	XJ23700型3kV高壓探極 XJ23700型	XJ23700型3kV高壓探極/上海新建上升時間 ≤35ns *大允許輸入電壓 3kV 輸入阻抗 100MΩ//3pF
	MSA338手持頻譜分析儀／日本馬可尼Micronix MSA338	MSA338手持頻譜分析儀／日本馬可尼Micronix 規(guī)范:顯示頻率(大7位)和電平(大3位)在標(biāo)志點(diǎn)DELTA:顯示頻率和電平在兩個標(biāo)志不同峰值搜索規(guī)范:在10div里搜索一個峰值點(diǎn)有效的下一個疲峰(9max). 地域:在一個由中心和寬特定的區(qū)域里,搜索波峰,每次掃描標(biāo)志移動到峰值點(diǎn). 計(jì)算規(guī)范:大保持,小保持,平均值,覆蓋 *大/小保持:2-1024次,
	R3131A頻譜分析儀／日本愛德萬ADVAN R3131A	R3131A頻譜分析儀／日本愛德萬ADVAN作為低成本和性能中檔的標(biāo)準(zhǔn)頻譜分析儀，R3131A可以被應(yīng)用于廣泛的領(lǐng)域。R3131A帶有框架插槽式設(shè)計(jì)，操作鍵布局簡單明了，可以簡便地設(shè)計(jì)成為通用或?qū)Ｓ孟到y(tǒng)。 ■內(nèi)置有數(shù)字無線電測試所要求的高精度OBW、ACP、Power測量功能

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